镀层膜厚测量仪
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镀层膜厚测量仪
来源:佳谱仪器(苏州)有限公司
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简介: 佳谱仪器T450Splus镀层测厚仪是一款高性能X射线荧光光谱仪,专为高精度镀层厚度及成分分析设计。其工作原理基于X射线荧光技术:仪器通过微聚焦增强型射线管发射高能X射线,激发镀层元素产生特征荧光X射线,探测器接收信号后结合增强FP算法软件与变焦装置,精确计算镀层厚度及元素含量。该技术实现无损检测,最小测量点可达0.25mm,厚度检出限低至1nm,成分检出限达1ppm,支持多层镀层(最多15层)及24种元素同步分析。
产品详细

JPSPEC


工作原理:

通过微聚焦增强型射线管发射高能X射线,激发镀层元素产生特征荧光X射线,探测器接收信号后结合增强FP算法软件与变焦装置,精确计算镀层厚度及元素含量。


应用范围:

覆盖汽车制造、电子元器件、航空航天及五金卫浴等领域。


产品技术参数:

配备FAST SDD探测器,支持0-50kV智能程控高压系统,准直器可自动切换φ0.2mm、φ0.3mm、φ0.5mm三种规格。设备采用工业CCD高清摄像头,支持光学30-50X与数字40-160倍放大,样品腔尺寸达410×478×245mm,配备微米级XY移动平台。


产品特点:

支持ROHS指令(检出限1ppm)及REACH指令检测,满足环保法规要求;采用多维散热系统,延长仪器寿命;内置智能分析软件,可自动识别样品类型并调整参数;支持USB数据传输与一键测试功能,操作便捷。

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标签:镀层膜厚测量仪,测厚仪
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