金属镀层测厚仪
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金属镀层测厚仪
来源:艾利特克(苏州)科学仪器有限公司
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简介: 艾利特克(苏州)科学仪器有限公司推出的金属镀层检测仪,是一款基于X射线荧光光谱(XRF)技术的高精度分析设备,专为金属材料表面镀层厚度及成分分析设计。其核心工作原理是通过X射线管发射高能X射线,激发样品表面镀层与基材的原子特征荧光。探测器捕获荧光信号后,结合光谱解谱算法与机器视觉技术,可同步分析多层镀层厚度及元素组成,覆盖Mg至U元素周期表,支持单层、合金镀层及复杂多层结构(如Au/Ni/Cu、Sn/Ni/Cu)的精准检测。
产品详细

 艾利特克


工作原理:

通过X射线管发射高能X射线,激发样品表面镀层与基材的原子特征荧光。


应用范围:

该仪器广泛应用于航空航天、汽车制造、电子电路及新能源领域。


产品技术参数:

测量范围:0.1μm至100μm(单层镀层),支持多层镀层叠加分析;

检测时间:合金分析≤3秒,镀层测厚≤120秒;

分辨率:可检测0.1μm级超薄镀层,误差≤1%;

工作温度:-10℃至50℃,适应复杂工业环境;

显示方式:高清触摸屏,支持人机交互与数据可视化;

接口协议:提供开放式协议,支持无缝接入MES系统。


产品特点:

高精度与智能化:采用自主ULS光路系统与薄膜FP法软件,实现多层镀层成分与厚度同步分析;

安全防护:配备自动感知距离与关断功能,防辐射结构模组有效屏蔽杂散射线;

模块化设计:支持定制化解决方案,满足不同行业差异化需求;

高效便捷:一键测试与自动校准功能,显著提升检测效率。

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标签:金属镀层测厚仪,测厚仪
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