工作原理：

EDX1800通过高压电源激发X光管产生初级X射线，照射样品后激发特征X荧光。电制冷Si-Pin探测器捕获荧光信号并转换为数字信号，结合专业软件（如FP基本算法、经验系数法）进行定性定量分析，可同时解析多层镀层结构及元素组成。

应用范围：

该仪器广泛应用于地矿、电子/电池、纺织/印染、电气等领域，适用于矿石成分分析、合金成分鉴定（如铜、不锈钢）、金属镀层厚度测量、电镀液含量测定，以及贵金属（金、铂、银）和首饰的含量检测。

产品技术参数：

元素分析范围：硫(S)至铀(U)

分析含量：2ppm至99.99%

能量分辨率：144±5eV

检测限：2ppm

样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm

仪器尺寸：550mm×410mm×320mm

电源：交流220V±5V

工作温度：15-30℃

探测器类型：SDD（部分型号）或电制冷Si-Pin

准直器与滤光片：支持多规格电动切换

产品特点：

多层分析能力：可解析复杂镀层结构，如钕铁硼磁铁表面的多层镀层。

无损检测：支持固体、粉末、液体样品，无需复杂前处理。

高效测试：配备大功率X光管，检测时间短（60-200秒/次）。

安全设计：全封闭式金属机箱、防泄漏保护开关、自动安全防护开关。

操作便捷：500万像素彩色CCD观察样品图像，支持自动谱线识别与多元素同时分析。

精密结构：短光路设计、风冷系统提升稳定性，延长X光管寿命。