工作原理

基于X射线荧光光谱分析技术。设备通过内置的高压微型X射线管激发样品表面元素，产生特征X射线荧光信号，再经SDD硅漂移探测器接收并转换为电信号，最终通过智能算法解析出元素种类及含量。

应用范围

该设备广泛应用于陨石鉴定、地质勘探、矿产资源评估及环境监测领域。在陨石研究中，可快速检测铁、镍、硅、铝等主要元素及微量放射性元素（如铀、钍），辅助判断陨石类型与来源；地质勘探中支持矿石品位分析、岩芯成分鉴定及污染物质筛查；环境监测领域则可检测土壤、水体中的重金属污染。

产品技术参数

设备尺寸为245×250×88mm，重量小于1.5kg，采用40kV/100mA大功率X射线管，检测范围0%~99.99%。内置气压计可自动补偿海拔变化，确保检测结果准确；Peltier恒温冷却系统维持探测器在-35℃稳定工作，延长使用寿命。工业级TFT触摸屏支持中文/英文界面，数据可通过蓝牙传输至GIS数据采集手簿，实现GPS坐标与元素含量的同步记录。

产品特点

高精度与稳定性：SDD探测器计数率达200,000cps，较传统Si-Pin探测器提升10倍，确保轻元素（如Mg、Al）检测的灵敏度。

便携性与耐用性：铝合金外壳与槽式散热设计适应-20℃~50℃极端环境，IP65防护等级防尘防水，适合野外作业。

智能化操作：一键式按钮设计结合用户化Windows CE 6.0系统，支持现场查看光谱图、调整分析模式（如Mining Plus模式检测Mg、Al、Si等10种元素）。

安全与便捷：内置加速器可探测运动状态，实现“拿起即用、放下待机”；智能接驳座支持热插拔电池，无需关机即可更换电源。