工作原理

采用先进的X射线荧光光谱技术（XRF），通过高能X射线激发样品表面原子，使其发射特征荧光光谱，结合高精度硅漂移探测器（SDD）捕获光谱信号，实现多元素快速定量分析。

应用范围

仪器广泛应用于冶金、采矿、电子电器、建材及环保等领域。在冶金行业，可快速分析锰合金中Mn、Fe、Cr等元素含量，优化生产工艺；在采矿领域，支持矿石中Mn、Se、Cu、Zn等元素的品位检测，指导开采计划；在电子电器行业，满足RoHS指令对Pb、Cd、Hg等有害物质的管控需求；建材行业可用于水泥、玻璃中K、Ca等成分分析；环保领域则可检测土壤、水质中的重金属污染。

产品技术参数

检测元素范围：Mg（12号）至Pu（94号），支持定制滤光系统

分辨率：≤149±5eV

检测下限：Se元素≤2ppm，Mn元素≤5ppm（视基质而定）

检测时间：快速模式≤2秒，高精度模式≤200秒

探测器：SDD硅漂移探测器，光管寿命≥15000小时

环境适应性：工作温度-20℃~50℃，湿度0-95%（不结露）

数据存储：内置2GB SD卡，支持GPS绑定及无线蓝牙传输

产品特点

便携高效：整机重量＜1.5kg，支持电池热插拔，野外连续工作8小时；

智能分析：内置多元素分析软件，支持自定义工作曲线，提升检测精度；

安全防护：IP54防护等级，通过辐射安全认证，操作安全可靠；

数据互联：支持Excel、PDF格式报告导出，可接入企业ERP系统。