仪器简介

X射线衍射仪主要测试功能包括X射线粉末衍射、掠入射衍射及高温(~1200℃)条件下的X射线衍射，能够提供粉末、块状、液态的多晶样品的常规物相分析和半定量分析，晶胞参数的测定、修正、未知多晶样品的X射线衍射指标化、晶粒尺寸和结晶度测定。还可对材料的残余应力、织构及薄膜反射率进行测试和分析。配备的LynxEye XE阵列探测器共由192个子探测器阵列组成，具有优异的分辨率及信噪比;探测效率是普通闪烁探测器的10倍以上，普通样品可在7分钟左右测试完成;具有优异的能量分辨率，无需单色器，即可有效去除含铁样品的荧光。步进马达加光学编码精密测角仪可使角度重现性达到±0.0001°，是目前最高精度的测角仪。

性能指标

工作功率：1.6kW(40kV，40mA)

靶材：铜靶、钴靶

探测器：LynxEye XE阵列探测器

扫描范围：0°～140 °

测角仪精度：0.0001° 准确度≤0.02°

测试温度：室温～ 1200℃

多功能样品台：标准样品台、尤拉环样品台、高温样品台

测试项目

X射线粉末衍射X射线掠入射衍射高温X射线衍射(室温~1200℃)应力测试织构测试

样品要求

块状样品标准尺寸：10*10*1mm (厚度最多不要超过12mm)要求样品表面平整粉末样品要求颗粒不超过400目