仪器简介
日本理学ZSX Primus下照射荧光光谱仪，可对从O到U之间的元素进行定量和半定量元素测量，具有超尖锐超薄窗X射线管(75um);流气式和高能闪烁式探测器;坚固耐用，精确和快速的独立转动测角仪。
性能指标
测量范围：从O到U之间的元素进行定量和半定量元素测量
样品厚度：不超过 5 mm
样品直径：Φ15 mm到Φ40 mm
样品要求：表面光滑
测量精度：ppm级别
气氛：P10气体
测试项目
从O到U之间的元素进行定量和半定量元素测量。
样品要求
固态样品，圆片状，φ15-φ50mm，厚度0.5-4mm。上下表面光滑
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京公网安备 11010702002294号
